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Highly Productive Process Technologies of Cantilevertype Microprobe Arrays for Wafer Level Chip Testing
소개글 Author: Lim Jae-Hwan, Ryu Jee-Youl, Choi Woo-Chang Organization: Lim Jae-Hwan; Ryu Jee-Youl; Choi Woo-Chang Publish: Transactions on Electrical and Electronic Materials Volume 14, Issue2, p63~66, 25 Apr 2013
태그
  • Microprobes
  • Cantilever-type
  • MEMS
  • Highly productive process
  • Au-Sn bonding

저작시기 2013-04월

등록일 2016-07-15

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