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The Electrical Characterization of Magnetic Tunneling Junction Cells Using Conductive Atomic Force Microscopy
소개글 Author: Heo Jinhee Organization: Heo Jinhee Publish: Transactions on Electrical and Electronic Materials Volume 11, Issue6, p271~274, 25 Dec 2010
태그
  • Magnetic tunneling junction
  • Tunneling current behavior
  • Magnetoresistance ratio
  • Scanning probe microscopy
  • Magnetic field

저작시기 2010-12월

등록일 2016-07-14

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