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N-Type Carbon-Nanotube MOSFET Device Profile Optimization for Very Large Scale Integration
소개글 Author: Sun Yanan, Kursun Volkan Organization: Sun Yanan; Kursun Volkan Publish: Transactions on Electrical and Electronic Materials Volume 12, Issue2, p43~50, 25 Apr 2011
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  • Carbon nanotube array
  • Lower subthreshold leakage
  • Higher performance
  • Substrate bias
  • Charge screening effect

저작시기 2011-02월

등록일 2016-07-14

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